该技术已申请专利。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系技术所有人。

1.本实用新型涉及平板探测器的检测领域，特别涉及一种用于电离室的固定支架。


背景技术：

2.数字化x线摄影(digital radiography，简称dr)，近年来发展起来的x线摄影新技术，其更快的成像速度、更便捷的操作、更高的成像分辨率这些优点，成为数字x线摄影技术的主导方向，并得到世界各国的临床机构和影像学专家认可。dr的技术核心是平板探测器，平板探测器是一种精密和贵重的设备，对成像质量起着决定性的作用。平板探测器厂家在生产完毕后需要对平板探测器放入电离室内，调整电离室内x光发生器与平板探测器之间的距离，以测试其各项数据是否符合要求，在平板放入电离室内进行检测之前，首先需要放入辐照计，检测电离室内平板探测器所在点位的辐射强度值是否满足要求，如果不满足要求则需进一步调整x光发生器的电流电压以满足点位的辐射强度，最后再将平板探测器放入电离室内进行各项数据的检测，针对这一需求，本申请提供了一种解决方案。


技术实现要素：

3.实用新型目的：本实用新型的目的是提供一种用于电离室的固定支架，能够检测电离室内平板探测器所在点位的辐射强度值，在辐射强度值不满足需求时调整电离室内x 光发生器的电流电压，从而满足检测平板探测器所需的辐射强度值。
4.技术方案：本实用新型所述的一种用于电离室的固定支架，包括有铝质安装座，所述铝制安装座固定在电离室的内壁，所述铝制安装座上设置有用于固定连接块的腰型孔，所述连接块一端与腰型孔连接，另一端上设置有主悬臂，所述主悬臂的端部的上端面设置有副悬臂，所述副悬臂的端部设置有用于夹持辐照计的夹持部。
5.作为优选，所述腰型孔以两个为一组，分为两组，分别设置在铝制安装座的上方和下方，所述铝制安装座的上方对置的腰型孔与水平面垂直，所述铝制安装座下方对置的腰型孔与水平面平行。
6.上下两处腰型孔的设置确保了本装置能够在不同的高度平面内匹配平板探测器的位置，并且在确定高度后仅在当前高度调整主副悬臂。
7.作为优选，所述连接块一端与腰型孔连接，上端面与主悬臂转动连接，转动角度在 0
°
到180
°
之间，所述主悬臂与连接块之间采用拨珠对主悬臂与连接块转动后的相对位置进行定位。
8.主悬臂与连接块的旋转连接使主悬臂所能够检测的辐射强度值的点位由点变成线，能够检测以主悬臂为半径所成的半圆的圆周上的辐射强度，配合平板探测器放置在不同位置时，均能提前进行辐射强度值的检测。
9.作为优选，所述主悬臂的上端面上设置有滑轨，所述副悬臂通过滑轨与主悬臂滑动连接，所述主悬臂与副悬臂之间通过滑轨，调整主悬臂与副悬臂之间的相对位置。
10.副悬臂的设置使检测的辐射强度的范围由圆周的线变成了圆环形的面，进一步扩
大了能够配合平板探测器放置在不同点位进行检测时的范围。
11.作为优选，所述滑轨的两侧分别设置有不少于三组的同性的定位磁铁，所述副悬臂与主悬臂连接的一端设置有与定位磁铁异性的磁块，所述副悬臂通过定位磁铁与磁块相互吸引完成对副悬臂在主悬臂上位置的定位。
12.定位磁铁的设置确保副悬臂与主悬臂之间的相对位置在调整后能够确定，不会在检测过程中发生位移。
13.作为优选，所述夹持部包括有对置在齿条两端的夹臂，所述夹臂相互朝向的端面上设置有用于放置辐照计的开槽。
14.有益效果：本申请高低不同腰型孔位的设置使悬臂能够在不同的高度进行辐射强度的检测，主悬臂与连接块的旋转设置使悬臂能够在当前平面内从0
°
旋转到180
°
，选择合适的点位进行辐射强度检测，副悬臂的设置拓宽了悬臂旋转所能检测的平面范围，从而使本申请能够在电离室空间内匹配平板探测器所在的不同位置，均能够提前对平板探测器所在不同位置的辐射强度值进行检测，用以判断是否满足检测平板探测器的需求。
附图说明
15.图1是本申请的立体图；
16.图2是本申请的俯视图。
具体实施方式
17.下面结合具体实施例对本申请做进一步阐述。
18.如图1-2所示，为本申请的结构示意图，本实施例包括有安装在电离室内壁的铝制安装座1，在铝制安装座1上设置有用于固定连接块2的腰型孔3，在本实施例中，在铝制安装座1的上方和下方分别有对置的腰型孔3，其中上方对置的腰型孔3与水平面垂直，下方对置的腰型孔3与水平面平行。
19.在本实施例中，在铝制安装座1的上方对置的腰型孔3内设置有连接块2，连接块2 与腰型孔3连接，在连接块2的端面上设置有主悬臂4，主悬臂4与连接块2转动连接，转动角度在0
°
到180
°
之间，主悬臂4与连接块2之间采用拨珠7对主悬臂4与连接块 2转动后的相对位置进行定位。
20.在本实施例中，主悬臂4上端面上设置有滑轨8，滑轨8上设置有副悬臂5，副悬臂 5通过滑轨8与主悬臂4滑动连接，在滑轨8的两侧分别设置有三组同性的定位磁铁9，副悬臂5与主悬臂4连接的一端设置有与定位磁铁9异性的磁块，副悬臂5通过定位磁铁9与磁块相互吸引完成对副悬臂5在主悬臂4上位置的定位。
21.在本实施例中，夹持部6包括有对置在齿条10端部两端的夹臂13，夹臂13相互朝向的端面上设置有用于放置辐照计的开槽14，辐照计放入开槽14内后，通过夹臂13夹持住，跟随夹持部6位移。
22.本申请在工作中时，通过将连接块2放入上下不同位置的腰型孔3内，从而确定主悬臂4和副悬臂5的高度，通过转动主悬臂4以及滑动副悬臂5确定所在平面内的某点，然后将辐照计放置在夹持部6内，最后启动电离室内x光发生器，通过辐照计确定所在点位的辐射强度值，当辐射强度值不满足检测平板探测器所要求的值时，对x光发生器的电流电压进
行调整，重新检测，直至满足需求后放入平板探测器进行检测。
23.本申请通过主副悬臂的组合，扩大了设置在夹持部6上的辐照计能够匹配的平板探测器所在位置的范围，满足在平板探测器在检测时，提前确认平板探测器所在位置的辐射强度值。


技术特征：
1.一种用于电离室的固定支架，包括有铝制安装座(1)，其特征在于：所述铝制安装座(1)固定在电离室的内壁，所述铝制安装座(1)上设置有用于固定连接块(2)的腰型孔(3)，所述连接块(2)一端与腰型孔(3)连接，另一端上设置有主悬臂(4)，所述主悬臂(4)的端部的上端面设置有副悬臂(5)，所述副悬臂(5)的端部设置有用于夹持辐照计的夹持部(6)。2.根据权利要求1所述的一种用于电离室的固定支架，其特征在于：所述腰型孔(3)以两个为一组，分为两组，分别设置在铝制安装座(1)的上方和下方，所述铝制安装座(1)的上方对置的腰型孔(3)与水平面垂直，所述铝制安装座(1)下方对置的腰型孔(3)与水平面平行。3.根据权利要求1所述的一种用于电离室的固定支架，其特征在于：所述连接块(2)一端与腰型孔(3)连接，另一端的上端面与主悬臂(4)转动连接，转动角度在0
°
到180
°
之间，所述主悬臂(4)与连接块(2)之间采用拨珠(7)对主悬臂(4)与连接块(2)转动后的相对位置进行定位。4.根据权利要求1所述的一种用于电离室的固定支架，其特征在于：所述主悬臂(4)的上端面上设置有滑轨(8)，所述副悬臂(5)通过滑轨(8)与主悬臂(4)滑动连接，所述主悬臂(4)与副悬臂(5)之间通过滑轨(8)，调整主悬臂(4)与副悬臂(5)之间的相对位置。5.根据权利要求4所述的一种用于电离室的固定支架，其特征在于：所述滑轨(8)的两侧分别设置有不少于三组的同性的定位磁铁(9)，所述副悬臂(5)与主悬臂(4)连接的一端设置有与定位磁铁(9)异性的磁块，所述副悬臂(5)通过定位磁铁(9)与磁块相互吸引完成对副悬臂(5)在主悬臂(4)上位置的定位。6.根据权利要求1所述的一种用于电离室的固定支架，其特征在于：所述夹持部(6)包括有对置在齿条(10)两端的夹臂(13)，所述夹臂(13)相互朝向的端面上设置有用于放置辐照计的开槽(14)。

技术总结
本实用新型公开了一种用于电离室的固定支架，包括有铝质安装座，铝制安装座固定在电离室的内壁，铝制安装座上设置有用于固定连接块的腰型孔，连接块一端与腰型孔滑动连接，另一端上设置有主悬臂，主悬臂的端部设置有副悬臂，副悬臂的端部设置有用于夹持辐照计的夹持部，本申请通过主副悬臂的组合，扩大了设置在夹持部上的辐照计能够匹配的平板探测器所在位置的范围，满足在平板探测器在检测时，提前确认平板探测器所在位置的辐射强度值。确认平板探测器所在位置的辐射强度值。确认平板探测器所在位置的辐射强度值。


技术研发人员：张季聪 费秀田
受保护的技术使用者：万睿视影像设备（中国）有限公司
技术研发日：2022.05.27
技术公布日：2022/11/28