该技术已申请专利。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系技术所有人。
一种用于pcie卡测试的插座装置和测试系统
技术领域
1.本技术涉及pcie卡测试领域，尤其涉及一种用于pcie卡测试的插座装置和测试系统。


背景技术：

2.随着pcie(pci express)卡密度越来越高，其功耗越来越大。考虑pcie卡的热性能与外观，通常会在pcie卡上覆盖一整套散热结构，将pcie卡的印刷电路板(pcb)完全包住，使得pcie卡露出的区域只有向外的通讯接口，比如pcie卡的金手指。在对pcie卡进行量产测试时，可选用定制的半自动化或自动化的测试治具，但在pcie卡的研发阶段，由于整套半自动或自动测试治具的成本较高，因此往往需要手动测试。而测试pcie卡时，需要多次对其监控及进行程序烧写，该过程通常需要将pcie卡从主板上拆卸下来，并拆除散热器，因此每次烧写程序会浪费大量时间，增加整个pcie卡的研发测试时间。


技术实现要素：

3.基于现有技术的上述问题，本技术实施例提供了一种用于pcie卡测试的插座装置，所述pcie卡具有能够用于安装所述插座装置的安装结构，所述安装结构上设置有测试点，所述测试点用于引出所述pcie卡需要测试的信号；
4.所述插座装置包括：
5.插座底座，所述插座底座上开设有探针孔；
6.信号插头，用于将所述需要测试的信号引出；
7.测试探针，包括第一端和第二端，所述第一端用于插入所述探针孔中，以使所述测试探针穿过所述插座底座以接触连接所述测试点，所述第二端用于连接所述信号插头；
8.其中，所述插座装置用于通过所述插座底座安装至所述pcie卡上的所述安装结构，以使所述pcie卡需要测试的信号能够通过所述测试探针被传输至所述信号插头，以将所述需要测试的信号引出。
9.通过上述用于pcie卡测试的插座装置，可在不拆卸pcie卡且不拆卸pcie卡上的散热器的情况下，通过插座装置与pcie卡上的安装结构的连接关系引出需要传递、测试的信号，快速完成关键数据的读取以及程序烧写，该插座装置可在pcie卡的多次测试过程中反复使用，能够节约大量产品测试与研发时间。
10.在一个实施例中，所述插座装置还包括电路板；所述电路板上设置有探针安装结构以及插座安装结构，所述探针安装结构和所述插座安装结构连接；所述探针安装结构用于连接所述测试探针的第二端；所述插座安装结构用于连接所述信号插头。
11.在该实施例中，可根据测试探针的第二端和信号插头的接口形式，设计电路板上的探针安装结构和插座安装结构，通过改变插座安装结构可以适配多种信号插头，具有通用性。
12.在一个实施例中，所述探针安装结构是安装孔或实心焊盘；所述插座安装结构是
安装孔或实心焊盘，结构简单且易于操作。
13.在一个实施例中，所述安装结构是pcie卡的防呆结构或卡扣结构。利用pcie卡本身的防呆结构或卡扣结构引出pcie卡需要测试的信号，不会影响pcie卡本身的功能，且能够方便地将pcie卡需要测试的信号引出。
14.在一个实施例中，所述插座底座的内部侧面的形状与所述安装结构相匹配，以使得所述安装结构能够嵌入所述插座底座中，从而将所述插座装置固定安装至所述安装结构。
15.在一个实施例中，所述插座底座包括固定结构，用于将所述插座装置固定安装至所述安装结构，以保持所述测试探针的第一端连接至所述测试点。
16.在一个实施例中，所述固定结构包括定位销，所述安装结构还包括定位孔，所述定位销用于插入所述定位孔中，以使所述探针孔与所述测试点对齐，且将所述插座装置安装至所述安装结构。
17.在一个实施例中，所述固定结构包括位于所述插座底座上的销钉孔，所述销钉孔用于插入销钉，以将所述插座装置固定在所述安装结构上。采用销钉孔和销钉相配合的方式来将插座装置固定至安装结构，结构简单，可以容易地实现插座装置的安装和拆卸，且便于制造和操作。
18.在一个实施例中，所述信号插头包括信号插座公头和信号插座母头，所述信号插座公头适于连接至所述测试探针的第二端，所述信号插座母头适于插入所述信号插座公头中，以提供外接接口。可以通过信号插座母头外接不同的外接接口，操作方便且具有通用性。
19.本技术实施例还提供一种测试系统，包括：
20.pcie卡，所述pcie卡具有安装结构，所述安装结构上设置有测试点，所述测试点用于引出所述pcie卡需要测试的信号；
21.以及前述的用于pcie卡测试的插座装置，所述插座装置用于安装在所述安装结构上，并将所述需要测试的信号引出；
22.其中，所述安装结构是pcie卡的防呆结构或卡扣结构。
附图说明
23.图1示出了本技术提供的一个实施例的pcie卡的结构示意图。
24.图2示出了本技术提供的一个实施例的用于pcie卡测试的插座装置的爆炸图。
25.图3a示出了本技术实施例提供的一种插座装置的插座底座的立体视图。
26.图3b示出了图3a的插座底座的另一立体视图。
27.图3c示出了图3a的插座底座的底部视图。
28.附图标记说明：
29.11：第一防呆结构
30.111：定位孔
31.112：测试点
32.12：金手指
33.13：卡扣结构
34.14：第二防呆结构
35.15：金属结构件
36.16：pcie板卡支架
37.22：插座底座
38.223：探针孔
39.23：测试探针
40.24：电路板
41.241：探针安装结构
42.242：插座安装结构
43.25：信号插座公头
44.26：信号插座母头
45.21：销钉
46.221：定位销
47.222：销钉孔
48.w：宽度
49.m：定位面
具体实施方式
50.为了使本技术的目的、技术方案以及优点更加清楚明白，下面将结合附图通过具体实施例对本技术作进一步详细说明。应当注意，本技术给出的实施例仅用于说明，而不限制本技术的保护范围。
51.pcie卡是一种具有pcie接口的网卡，在主板级连接中用作扩展端口。pcie卡能够插入主机、服务器和网络交换机等设备主板上的pcie插槽。pcie卡通常包括处理芯片、pcie接口、防呆结构以及卡扣结构。
52.处理芯片是pcie卡用于实现数据处理的处理器。
53.pcie接口包括多个黄色导电触片且导电触片通常排列成手指状，因此又称为金手指。金手指与处理芯片连接，并且与设备主板上的pcie插槽可拔插连接，从而使得pcie卡能够通过金手指，与设备主板建立通信连接，实现数据交互。金手指还用于在pcie卡正常工作时，为pcie卡供电。
54.防呆结构相对于pcie卡突出，用于提供参考位置，用户可在将pcie卡插入设备主板上的pcie插槽时，基于防呆结构进行位置对准，防止插错导致pcie卡被损坏。
55.pcie卡上的卡扣结构具有与设备主板上的卡扣结构(设备主板上的卡扣结构可以是卡扣凹槽)相适配的形状，用于将pcie卡锁定到设备主板上。
56.图1示出了本技术提供的一个实施例的pcie卡的结构示意图，如图1所示，标准pcie卡为了性能、散热及美观要求，通常会覆盖金属结构件15，其中未被金属结构件15覆盖的部分主要包括：防呆结构、金手指12以及卡扣结构13。
57.可选的，pcie卡上可设置多个防呆结构，例如图1所示的第一防呆结构11和第二防呆结构14。第二防呆结构14靠近pcie卡边缘，用于安装pcie板卡支架16；而第一防呆结构11是独立结构，其与金手指12具有一定的间隔。
58.应当注意，图1所示的pcie卡的结构仅为示例，在实际应用中，pcie卡还可以包括其他的结构，pcie卡也可以具有更多的防呆结构。
59.在本技术实施例中，pcie卡具有未被金属结构件15覆盖的安装结构，该安装结构上设置有测试点，所述测试点用于引出pcie卡需要测试的信号。其中，测试点未被金属结构件15覆盖，暴露在外。
60.可选的，上述的安装结构可以是第一防呆结构11、第二防呆结构14或卡扣结构13等，也可以是其他暴露在外的能够设置测试点的结构。为了便于理解和描述，在下文中，将以图1中所示的第一防呆结构11作为安装结构为例进行详细说明。
61.继续参考图1，在pcie卡的表面被金属结构件15覆盖之后，裸露在金属结构件15外面的第一防呆结构11的尺寸很小，在一个实例中，一个标准pcie卡上的其中一个第一防呆结构11的宽度(图1中的“w”处)仅有8mm，裸露在金属结构件15外侧的第一防呆结构11尺寸仅有8mm
×
8mm。
62.在本技术实施例中，该第一防呆结构11上还设置有定位孔111以及测试点112，该第一防呆结构11可作为安装结构，用于安装本技术实施例提供的用于pcie卡测试的插座装置。其中，定位孔111用于定位本技术实施例提供的插座装置(参见图2和图3a-图3c)；测试点112连接至pcie卡内部，用于引出pcie卡中需要测试或传递的信号，例如功耗、温度、其它所需的电信号等。
63.测试点112可以例如是实心焊盘或空心焊盘，只要能够引出pcie卡需要测试的信号即可。根据实际需要，也可以在多个防呆结构上都设置一些测试点112和定位孔111。
64.在图1所示的pcie卡结构中，作为示例，第一防呆结构11上设有2
×
4个测试点以及一个定位孔，但本技术不限于此，本领域技术人员可根据实际测试需求任意设置各防呆结构上的测试点112以及定位孔111的数量。
65.请参阅图2，图2为本技术实施例提供的一种用于pcie卡测试的插座装置的爆炸图，该装置能够用于对图1所示的pcie卡进行测试。为便于描述，下面将该用于pcie卡测试的插座装置简称为插座装置。
66.本技术实施例提供的插座装置(参见图2和图3a-图3c)能够安装至pcie卡上设置有测试点的所述安装结构，用以将pcie卡需要测试的信号引出。
67.作为一种实施方式，如图2所示，该插座装置可以包括插座底座22、电路板24、信号插头以及多个测试探针23。信号插头可例如包括信号插座公头25和信号插座母头26。
68.其中，插座底座上开设有探针孔223，用于插入测试探针23。
69.测试探针23包括第一端和第二端，测试探针23的第一端用于插入插座底座22的探针孔223中。测试探针23的第二端用于直接或间接连接至信号插头。示例性的，测试探针23可以是金属导体或弹簧探针等能够传输电信号的载体。
70.测试探针23的第一端用于插入插座底座22的探针孔223中，以使测试探针23能够固定在探针孔223中，测试探针23穿过该插座底座以接触连接安装结构上的测试点。
71.测试探针23、探针孔223的数量与第一防呆结构11中的测试点112的数量相同且位置一一对应，以使得当插座装置安装在第一防呆结构11上时，测试探针23的第一端与测试点112接触连接。在本技术实施例中，将插座底座22和测试探针23设计为分离的结构，使得其接口可以有多种形式，具有通用性。
72.在一个实例中，测试探针23的第二端可通过电路板24，间接连接信号插头。作为一种实现方式，电路板24上设置有探针安装结构241和插座安装结构242，探针安装结构241和插座安装结构242电性连接。
73.其中，探针安装结构241的位置和数量与测试探针23适配，以便于连接测试探针23的第二端。插座安装结构242的位置和数量与信号插头适配，以便于连接信号插头。
74.本领域技术人员可根据测试探针23的第二端和信号插头的接口形式，分别设计电路板24上的探针安装结构241和插座安装结构242，通过改变插座安装结构242可以适配多种形态的信号插头，具有通用性。
75.在一个实施例中，探针安装结构241和插座安装结构242是安装孔，孔状的探针安装结构241和插座安装结构242电性连接。测试探针23的第二端可插入并固定在孔状的探针安装结构241中，以及信号插头可插入并固定在孔状的插座安装结构242中，基于此实现测试探针23的第二端和信号插头之间的连接。
76.在另一个实施例中，探针安装结构241和插座安装结构242是实心焊盘，实心焊盘形态的探针安装结构241和插座安装结构242电性连接。测试探针23的第二端可焊接至探针安装结构241，以及信号插头可焊接至插座安装结构242，基于此实现测试探针23的第二端和信号插头之间的连接。
77.在其他实施例中，探针安装结构241和插座安装结构242的形态可以不同，仅需满足二者之间电性连接，且能够分别连接测试探针23的第二端和信号插头即可。
78.作为另一种实施方式，前述的电路板24可以省略，例如可将测试探针23的第二端与信号插头直接连接，例如通过导线连接。
79.在本技术实施例中，插座装置的信号插头用于直接或间接连接至测试探针23的第二端，以将需要测试的信号引出。
80.本技术实施例提供的插座装置，用于通过插座底座安装至pcie卡上的安装结构(例如前述尺寸较小的第一防呆结构11)，以使该pcie卡需要测试的信号能够通过所述测试探针被传输至所述信号插头，以将所述需要测试的信号引出。
81.在一个实施例中，信号插头包括信号插座公头25和信号插座母头26。信号插座公头25可直接或间接连接至测试探针23的第二端，用于将pcie卡中需要测试的信号引出，其可以是phd弯针。信号插座母头26可插入信号插座公头25中，可根据实际测试需求，对信号插座母头26外接常用接口，例如micro usb、type c等常用接口，该常用接口可直接与上位机的端口连接，以将pcie卡中需要测试的信号传输至上位机进行处理。
82.在另一个实施例中，信号插头可仅包括信号插座母头26(例如将信号插座母头26直接设置在电路板24上，或直接连接测试探针23)，用于将pcie卡中需要测试的信号引出，并根据实际使用需要对信号插座母头26外接常用接口。
83.在又一个实施例中，信号插头也可省略，例如直接用导线连接至测试探针23的第二端，用于将pcie卡中需要测试的信号引出。
84.在一个应用场景下，插座装置包括电路板24和信号插头，且电路板24上的探针安装结构241和插座安装结构242是安装孔，且，信号插头包括信号插座公头25和信号插座母头26。可将测试探针23的第一端安装到插座底座22的探针孔223中，并将测试探针23固定在探针孔223中。将测试探针23的第二端插入到电路板24中的探针安装结构241中，并焊接牢
固。将信号插座公头25插入到电路板24中的插座安装结构242中，并焊接牢固，完成插座装置的组装。将组装好的插座装置插入第一防呆结构11中，使得探针孔223中的测试探针23的第一端与第一防呆结构11上的测试点112对齐，并且连接至测试点112。最后插上带有常用接口(micro usb、type c等)的信号插座母头26，即可将pcie卡中需要测试的信号引出。
85.下面将对插座底座进行介绍，本技术实施例的插座底座用于将插座装置固定安装至pcie卡上的安装结构(例如前述尺寸较小的第一防呆结构11)。请参阅图3a-图3c，图3a示出了本技术实施例提供的一种插座装置的插座底座的立体视图；图3b示出了图3a的插座底座的另一立体视图；以及图3c示出了图3a的插座底座的底部视图。
86.作为一种固定方式，插座底座22具有定位面m，其是插座底座22的内部侧面(即，内壁表面的一部分或全部)。定位面m的形状与安装结构(例如第一防呆结构11)相匹配，以使得安装结构可以嵌入部分或全部插座底座22中，从而将插座装置固定安装至安装结构。
87.作为另一种固定方式，插座底座22包括固定结构，用于将插座装置固定安装至安装结构(例如第一防呆结构11)。
88.在一个实施例中，固定结构包括定位销221，用于插入安装结构(例如第一防呆结构11)上的定位孔111中，以使得插座底座22上的探针孔223与安装结构上的测试点112对齐，从而使得穿过探针孔223的测试探针23的第一端能够与测试点112对齐，并且将插座装置固定安装至安装结构。
89.可选的，固定结构还可以包括位于插座底座22上的一个或多个销钉孔222(销钉孔222可以开设在插座底座22的侧壁上)，该销钉孔222用于插入销钉21。示例性的，可以在插座底座22的侧壁上开设对称的销钉孔222，在将前述定位销221插入定位孔111的情况下，采用销钉21插入销钉孔222，可对插座装置22进行进一步固定，并且操作简便。可选的，销钉21的一端可插入销钉孔222，另一端具有把手，方便拔插。在一个实施例中，销钉21为l型结构(参见图3b)。可以理解的是，也可以采用多个非l型结构的销钉分别插入插座底座22上不同位置的销钉孔，从而对插座底座22进行固定。
90.在又一个实施例中，固定结构可包括位于插座底座22的侧面上的搭扣，当需要将插座装置安装至pcie卡的安装结构(例如第一防呆结构11)时，插座底座22的侧面上的搭扣与pcie卡的安装结构卡扣连接，从而将插座装置固定安装至安装结构。
91.可选的，上述固定方式可以组合使用，例如，插座底座22可具有容纳安装结构的安装槽，该安装槽中可以设置前述的定位销221，可以在该安装槽上开设销钉孔221，该安装槽内的部分表面可作为定位面m。在需要安装该插座底座22至第一防呆结构11时，可将该插座底座22朝向第一防呆结构11移动，以使该定位销221穿过第一防呆结构11上的定位孔111，然后将销钉21插入销钉孔221，从而实现对插座底座22的固定。基于该实现方式，插座装置可相对于pcie卡固定，且穿过插座底座22的测试探针23可以接触连接pcie卡的测试点112。
92.应当注意，上述的固定结构仅为示例，也可采用其他的固定结构，只要能将插座装置固定安装至pcie卡的安装结构(例如第一防呆结构11)并能够引出pcie卡需要测试的信号即可。本技术实施例的不同固定结构即可以单独使用，也可以互相结合使用。
93.作为又一种固定方式，可以采用热熔胶固定，在插座装置与安装结构的接合处涂覆热熔胶，从而将插座装置固定安装至pcie卡的安装结构。
94.应当注意，上述的固定方式仅为示例，也可采用其他的固定方式，只要能将插座装
置固定安装至pcie卡的安装结构即可。本技术实施例的不同固定方式即可以单独使用，也可以互相结合使用。
95.在一个应用场景下，插座装置包括电路板24和信号插头，且电路板24上的探针安装结构241和插座安装结构242是安装孔，信号插头包括信号插座公头25和信号插座母头26，测试探针23是弹簧探针，固定结构包括销钉孔222和定位销221。
96.同时参考图2和图3a-图3c，在实际使用时，将弹簧探针23的第一端安装到插座底座22的探针孔223中，并将弹簧探针23固定在探针孔223中。将弹簧探针23的第二端插入到电路板24中的探针安装结构241中，并焊接牢固。将信号插座公头25插入到电路板24中的插座安装结构242中，并焊接牢固，完成插座装置的组装。将组装好的插座装置的定位销221插入第一防呆结构11的定位孔111中，使得探针孔223中的弹簧探针23的第一端与pcie卡上的测试点112对齐，按压插座装置的顶部，使弹簧探针23的第一端接触并连接pcie卡的测试点112。此时第一防呆结构11位于销钉孔222和探针孔223之间，在销钉孔222中插入销钉21，以将插座装置固定在第一防呆结构11上。最后插上带有常用接口(micro usb、type c)的信号插座母头26，即可将pcie卡中需要测试的信号引出。
97.本技术中不限定测试点的数量，在一个实施例中，测试点、测试探针以及探针孔的数量相同。
98.本技术提出的用于pcie卡测试的插座装置，利用安装结构和插座装置配合引出需要测试的信号，可实现在不拆卸pcie卡及pcie卡上的散热器的情况下完成关键数据的读取以及程序烧写，可往复使用，能够节约大量产品测试与研发时间。
99.基于同一发明构思，本技术实施例还提供一种测试系统，该系统包括pcie卡以及前述的用于pcie卡测试的插座装置。该pcie卡具有安装结构，该安装结构上设置有测试点，该测试点用于引出所述pcie卡需要测试的信号；该插座装置用于安装在该安装结构上，并将所述需要测试的信号引出；该安装结构可以是pcie卡的防呆结构或卡扣结构。
100.关于该系统中pcie卡的其他细节、插座装置的其他细节以及有益效果，可参照前述对于pcie卡的介绍和插座装置的介绍，此处不再赘述。
101.虽然本技术已经通过优选实施例进行了描述，然而本技术并非局限于这里所描述的实施例，在不脱离本技术范围的情况下还包括所作出的各种改变以及变化。